高低温环境测试系统可用以质量保证,品质分析,失效分析和产品测试等多个领域。
可以为元器件,电路板,模块和其他的部件测试提供一个(-100℃ ~ 300℃)的方便快速的温度测试环境,并可循环测试。
ATS-750-M 测试温度范围: -90℃ ~ 300℃ 降温速度 : -55℃ ~ 125℃ ,< 10 秒 待测元器件控制方便 可用循环测试模式 GPIB, RS232接口